万和超声公司涂层测厚仪影响测量的若干因素
表面粗糙度：基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时，厦门电火花检测仪，在不同位置上增加测量的次数，克服这种偶然误差。
如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属上的覆盖层，再校对仪器零点。
磁场：周围各种电器设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性测量厚度的工作。
附着物质：本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清楚附着物质，WHD3电火花检测仪，以保证探头与覆盖层表面直接接触。
探头的放置：探头的放置方式对测量有影响，在测量中使探头与试样表面保持垂直。
试片的变形：探头使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上会出现不太可靠的数据。
读数次数：通常仪器的每次读数并不完全相同。因此必须在每一测量面积内取几个测量值，覆盖层厚度的局部差异，也要求在给定的面积内进行测量，表面粗糙时更应如此。
万和超声涂层测厚仪统计
为了有效地处理分析测量数据，WHD8电火花检测仪，本仪器带有数据统计功能。进入统计菜单后，会显示测量数据的zui大值、zui小值和平均值。在测量状态下屏幕会显示为zui新测量值，仪器对测量值进行自动存储。屏幕上方“S”后面显示的数字是进入统计的数据个数，为保证统计数据的有效性，在测量少于8次时不显示平均值，电火花检测仪价格，超过8次只统计最后测量的8个数据。
在测量过程中，如果发现有个别数据的偏差明显较大，可以拿开探头在非测量状态下按住“CAL”来删除，以免该数据进入数据统计运算。此时屏幕出现“0000μm”，即可重新测量数据。在统计状态下直接测量数据就能返回到测量状态。
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