济宁万和公司涂层测厚仪影响测量的若干因素
基体金属磁化：磁性法测量受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，WHD8电火花检测仪，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校对。
基体金属厚度：每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
边缘效应：本仪器对试片表面形状的陡变敏感，因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
曲率：试件的曲率对测量有影响
，这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
济宁万和超声电子设备有限公司专业生产涂层测厚仪，万和涂层测厚仪检测原理：
MC-2000型涂（镀）层测厚仪采用电磁感应法测量涂（镀）层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，益阳电火花检测仪，随着探头与铁磁性材料间距离的改变，WHD3电火花检测仪，该磁回路将有不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以准确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂（镀）层的厚度。
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