万和超声公司涂层测厚仪影响测量的若干因素
表面粗糙度：基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，WHD-8电火花检漏仪，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时，WHD-6电火花检漏仪，在不同位置上增加测量的次数，克服这种偶然误差。
如果基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去在基体金属上的覆盖层，再校对仪器零点。
磁场：周围各种电器设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性测量厚度的工作。
附着物质：本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清楚附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。
探头的放置：探头的放置方式对测量有影响，重庆电火花检漏仪，在测量中使探头与试样表面保持垂直。
试片的变形：探头使软覆盖层试件变形，直流电火花检漏仪，因此在这些试件上会出现不太可靠的数据。
读数次数：通常仪器的每次读数并不完全相同。因此必须在每一测量面积内取几个测量值，覆盖层厚度的局部差异，也要求在给定的面积内进行测量，表面粗糙时更应如此。
万和涂层测厚仪技术参数：
技术参数：
型号
WH-Ⅰ型
WH-Ⅱ型
WH-Ⅲ型
检测厚度（mm）
0.0001～0.5
0.001～5
0.01～10
测量误差
<3%+0.5μm
<3%+1μm
<3%+10μm
适应范围
电镀、油漆、搪玻璃等
油漆、橡塑、搪瓷等
沥青、喷塑、橡胶等
外形尺寸（mm）
135*72*30
主要功能
测量、存贮、读出、统计
电源
3节5＃电池
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